广东工业大学教师主页平台管理系统潘继生--中文主页-- (18) QiuSheng Yan，Senkai Chen，Jisheng Pan(*)，Detection and Analysis of Subsurface Cracks of Single Crystal SiC Wafers Based on Cross-Sectional Microscopy Method，Advanced Materials Research，2014(1027)：240~245 EI收录

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个人信息

潘继生Jisheng PAN

博士生导师硕士生导师

所在单位：机电工程学院

学历：博士

在职信息：在职

同专业博导

同专业硕导

论文成果

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(18) QiuSheng Yan，Senkai Chen，Jisheng Pan(*)，Detection and Analysis of Subsurface Cracks of Single Crystal SiC Wafers Based on Cross-Sectional Microscopy Method，Advanced Materials Research，2014(1027)：240~245 EI收录

发布时间：2021-03-05 点击次数：

是否译文：否

上一条：R.F. Liang, W.W. Zhang*, H.M. Ye, “Interpretable Deep Learning Based Text Regression for Financial Prediction,” Expert Systems, 2023. (SCI四区，CCF C) 下一条：L. Chen, W.W. Zhang*, H.M. Ye, “Accurate workload prediction for edge data centers: Savitzky-Golay filter, CNN and BiLSTM with attention mechanism,” Applied Intelligence, bol. 52, pp.13027–13042, 2022. (SCI二区，CCF C)