近五年授权的发明专利
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赵建林,张继巍,戴思清,邸江磊,一种具有亚纳米分辨率的薄膜厚度分布测量方法,中国发明专利,专利号:ZL201710613735.5
发布时间:2023-07-04点击次数:
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是否职务专利:否




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