P. Liu; Z. You; J. Wu; Elimu Michael; W. Wang; S. Cai, Defect Analysis and Parallel Testing for 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory
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DOI码：10.1109/TETC.2020.2982830
发表刊物：IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing
论文类型：期刊论文
文献类型：J
是否译文：否
发表时间：2020-03-01
收录刊物：SCI