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刘远,博士、教授、IEEE Senior Member、广州市珠江科技新星、国防科技重点实验室优秀中青年人才,主要从事集成电路可靠性与可测性、半导体器件缺陷表征与无损筛选等研究。先后主持国家自然科学基金面上项目、国家自然科学基金青年基金、广东省重点领域研发计划、广东省自然科学基金、广州市珠江科技新星、总装预研基金等 16 项,作为技术负责人/子课题负责人承担“核高基”国家重大专项、广东省科技重大专项、国防特区创新项目、国家微电子预研项目等 20 余项。作为第一/通讯作者在IEEE Electron Device Letters、IEEE Trans. Electron Device、Applied Physics Letters等国际权威期刊上发表SCI期刊论文 51 篇,其中IEEE期刊论文 19 篇;论文被引用(Google Scholar)320 余次,H指数 10。获得国家发明专利授权 6 件、公开 10 余件,实用新型专利 10 余件。2018年获得国防科技进步一等奖一项;2020年获得广东省科技进步二等奖一项。
华南理工大学  电子科学与技术  工学学士学位
华南理工大学  微电子学与固体电子学  Doctor of Engineering
广东工业大学
广东工业大学
工业和信息化部电子第五研究所
广东工业大学
国家自然科学基金通讯评议专家
广东省重点领域研发计划专家组专家
广东省科技计划通讯评议专家
广东省工信厅会评与通讯评议专家
广东省地市科技计划通讯评议专家
省市科技奖励通讯评议专家
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Description of Research Group:所在团队成员包括:熊晓明教授、蔡述庭教授、刘远教授、胡湘宏博士、郑欣博士等